STellar Blade La actualización reciente de Blade, que incluye el muy esperado modo fotográfico y Nier: Automata DLC, desafortunadamente introdujo varios errores que rompieron el juego. Sin embargo, el desarrollo de desarrolladores está trabajando activamente en una hotfijo.
Bugs que rompen el juego y el Hotfix
El parche 1.009, mientras ofrece un nuevo contenido emocionante, también causó problemas significativos. Los jugadores informaron haber sido suaves durante una búsqueda principal en una mazmorra anterior, evitando una mayor progresión. Los problemas adicionales incluyeron bloqueos del juego al usar la cámara selfie del modo foto y los problemas visuales con nuevos elementos cosméticos.
Shift Up aconseja a los jugadores que eviten forzar la progresión de la búsqueda y esperen la Hotfix. Los intentos de eludir los errores pueden conducir a bloqueos suaves permanentes, incluso después de que se lance el parche.
Nier: mejoras de colaboración de autómatas y modos de fotos
La actualización trae una cantidad sustancial de contenido, sobre todo el Nier: Automata Collaboration. Esta colaboración, nacida del respeto mutuo entre los directores Kim Hyung Tae y Yoko Taro, ofrece 11 artículos exclusivos. Los jugadores pueden encontrarlos interactuando con Emil, el personaje Nier que ha establecido una tienda dentro del mundo de Stellar Blade.
El modo fotográfico muy solicitado finalmente está aquí, lo que permite a los jugadores capturar imágenes impresionantes de Eva y sus compañeros. Los nuevos desafíos de fotos mejoran aún más esta característica. Para complementar el modo fotográfico, Eve recibe cuatro nuevos conjuntos y un nuevo accesorio (desbloqueado después de completar un final específico) que altera la apariencia del Modo Tachy. También se han agregado opciones de personalización de cola de caballo adicional y soporte de sincronización de labios para seis idiomas. Las mejoras adicionales incluyen auto-Auto-AIM de proyectil mejorado, ajustes de imán de bala para la habilidad de muerte instantánea y varias correcciones de errores más pequeñas.
